（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

單探頭法容易檢出（）。

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。

利用底波計算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時，適用的工件厚度為（）。

探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。

當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進(jìn)行傳輸修正。

儀器水平線性影響（）。