GIS耐壓試驗(yàn)之前，進(jìn)行老化（凈化）試驗(yàn)的目的是：使設(shè)備中可能存在的活動(dòng)微粒雜質(zhì)遷移到低電場區(qū)，并通過放電燒掉細(xì)小微粒或電極上的毛刺、附著的塵埃，以恢復(fù)GIS絕緣強(qiáng)度，避免不必要的破壞或返工。

通過通過調(diào)整缺陷設(shè)備的運(yùn)行方式并不能使設(shè)備的缺陷降級，因?yàn)槿毕萑匀淮嬖凇?/p>

在規(guī)定時(shí)間內(nèi)承載被保護(hù)部分的負(fù)載電流或(和)故障電流，以防止電容器過電壓或金屬氧化物限壓器過負(fù)荷的受控觸發(fā)間隙。

40.5kV及以上非純瓷套管和多油斷路器的tanδ應(yīng)在分閘狀態(tài)下按每支套管進(jìn)行測量。

絕緣良好的tgδ不隨電壓的升高而明顯增加。若絕緣內(nèi)部有缺陷，則其tgδ將隨電壓的升高而明顯增加。