A.較低頻率探頭和較粘的耦合劑
B.較低頻率探頭和粘度較小的耦合劑
C.較高頻率探頭和較粘的耦合劑
D.較高頻率探頭和粘度較小的耦合劑
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A.50萬輛
B.60萬輛
C.70萬輛
D.90萬輛
A.當(dāng)量法
B.缺陷回波高度法
C.底面回波高度法
D.延伸度定量評(píng)定法
A.是所加電脈沖持續(xù)時(shí)間的函數(shù)
B.是儀器接收器放大特性的函數(shù)
C.是晶片厚度的函數(shù)
D.以上都不對(duì)
A.大于入射角
B.小于入射角
C.等于入射角
D.在臨界角之外
A.入射縱波軸線與通過入射點(diǎn)法線的夾角
B.入射橫波軸線與通過入射點(diǎn)法線的夾角
C.傾斜晶片與探測面的夾角
D.入射波軸線與界面的夾角
最新試題
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
對(duì)于鉬靶X射線管,在管電壓低于()千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
以下耦合劑中,可用于粗糙表面檢測的是()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
若評(píng)片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>