A、兼容性測(cè)試 B、功能測(cè)試 C、設(shè)備測(cè)試 D、內(nèi)存測(cè)試
A、編程設(shè)計(jì)難以修改 B、編程設(shè)計(jì)效果不好,難以達(dá)到要求 C、編程設(shè)計(jì)門檻太高 D、編程設(shè)計(jì)不僅復(fù)雜,而且工作量大
A、可讀性強(qiáng) B、價(jià)格成本低 C、功能強(qiáng) D、入門門檻低