A.直方圖
B.質(zhì)量機(jī)能展開
C.控制圖
D.因果圖
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A.該測(cè)量系統(tǒng)從%P/T角度來說是完全合格的
B.該測(cè)量系統(tǒng)從%P/T角度來說是勉強(qiáng)合格的
C.該測(cè)量系統(tǒng)從%P/T角度來說是不合格的
D.上述數(shù)據(jù)不能得到%P/T值,從而無法判斷
A.這30天所有的數(shù)據(jù)點(diǎn)都落入控制限范圍內(nèi)
B.X=0.94μ這個(gè)結(jié)果與公差限范圍±50μ相比,小于10%,滿足GR&R要求
C.S=1.42μ這個(gè)結(jié)果與公差限范圍±50μ相比,小于10%,滿足P/T要求
D.對(duì)于150個(gè)數(shù)據(jù)進(jìn)行單樣本T檢驗(yàn),未發(fā)現(xiàn)偏差值之均值與0有顯著差異
A.甲設(shè)備比乙設(shè)備好一些,因?yàn)榧自O(shè)備的Cp更高一些
B.甲設(shè)備和乙設(shè)備一樣,因?yàn)榧自O(shè)備和乙設(shè)備的Cpk相同
C.乙設(shè)備要比甲設(shè)備好一些,因?yàn)橐以O(shè)備的Cp與Cpk接近,表明目標(biāo)中心與分布中心基本重合
D.以上結(jié)論都不對(duì)
A.10.001mm
B.10.002mm
C.10.004mm
D.10.006mm
A.對(duì)數(shù)正態(tài)分布
B.威布爾分布
C.正態(tài)分布
D.指數(shù)分布
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