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“整體優(yōu)先”原則優(yōu)先關(guān)注整體趨勢,同時也存在從高級皮層向下的反饋投射來識別具體細(xì)節(jié)。
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大腦皮層的腹側(cè)通路檢測運(yùn)動與空間位置,背側(cè)通路檢測顏色與形狀。
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當(dāng)檢測電極以各種角度插入腦皮層時所經(jīng)過之處檢測到的細(xì)胞最優(yōu)方位幾乎一致。
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