用連續(xù)法檢測時，檢測靈敏度不僅與被檢工件表面磁場強度有關，還受被檢工件材質的影響。

JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：剩磁應不大于0.3mT（240A/m）。

C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。

采用濕法時，應確認整個檢測面被磁懸液濕潤后，再施加磁懸液。

濕法用磁粉粒度一般比干法小。

JB/T4730.4-2005標準規(guī)定：直流退磁法是將需退磁工件放入直流磁場中，逐漸減小電流至零。

工件的退磁效果一般可用剩磁檢查儀或磁場強度計測定。

材料磁導率低（剩磁大）及直流磁化后，退磁磁場換向的次數（退磁頻率）應較多，每次下降的磁場值應較小，且每次停留的時間（周期）要略長。

標準試塊主要用于檢驗磁粉檢測的系統(tǒng)靈敏度，確定被檢工件的磁化規(guī)范。

相關顯示是由漏磁場吸附磁粉形成的磁痕顯示。