A.黑盒測(cè)試通常是針對(duì)功能的測(cè)試 B.白盒測(cè)試主要針對(duì)結(jié)構(gòu)的測(cè)試 C.黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試都能測(cè)試程序內(nèi)部的特定部位 D.白盒測(cè)試無法檢測(cè)程序的外部特性
A.按嚴(yán)重性來給缺陷進(jìn)行分類,主要是從產(chǎn)品和用戶的角度來考慮 B.優(yōu)先級(jí)表示修復(fù)缺陷的迫切程度和應(yīng)該何時(shí)修復(fù) C.缺陷越嚴(yán)重,優(yōu)先級(jí)越高 D.缺陷的優(yōu)先級(jí)隨著項(xiàng)目的發(fā)展會(huì)發(fā)生變化
A.程序錯(cuò)誤屬于軟件缺陷 B.行業(yè)背景知識(shí)可以幫助我們有效的識(shí)別軟件缺陷 C.識(shí)別軟件缺陷不應(yīng)脫離用戶需求 D.經(jīng)過修改后的軟件產(chǎn)品,其中存在的軟件缺陷必然會(huì)越來越少