軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

實(shí)際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

測定儀器垂直線性和動態(tài)范圍時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。

曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。