CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

斜探頭中，楔塊的作用是使縱波斜入射到工件中，通過波型轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波、表面波或板波。

當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

實際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

斜探頭前部磨損較多時，探頭的K值將變小。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。