軟保護膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。

雙晶直探頭傾角越大，交點離探測面距離愈遠，覆蓋區(qū)愈大。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

工件比較粗糙時，為防止探頭磨損和保護晶片，宜選用硬保護膜。

橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

當量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

液浸法的優(yōu)點之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測結果重復性好。