A、CSK-ⅡA、CSK-ⅣA B、GS-1、GS-2、GS-3和GS-4 C、CS2、CS3 D、CSK-IA、DZ-Ⅰ、DB-PZ20-2
A、對(duì)比試塊與被檢件或材料化學(xué)成份相似 B、試塊的外形尺寸能代表被檢工件的特征 C、對(duì)比試塊的厚度與被檢工件厚度相對(duì)應(yīng),涉及到不同工件厚度對(duì)接接頭檢測(cè),試塊厚度選擇應(yīng)由其較大工件厚度確定 D、對(duì)比試塊用于儀器探頭性能校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)
A、掃查靈敏度都高于基準(zhǔn)靈敏度 B、掃查靈敏度比基準(zhǔn)靈敏度高6dB C、掃查靈敏度都等于基準(zhǔn)靈敏度 D、掃查靈敏度應(yīng)根據(jù)表面狀況、缺陷檢測(cè)要求及探頭類(lèi)型等適當(dāng)提高dB數(shù)(增益)