電子元器件降額設(shè)計(jì)可以延緩其參數(shù)退化，增加工作壽命，提高使用可靠性。

什么是HALT？有哪些測(cè)試步驟？

產(chǎn)品Layout時(shí)無需考慮熱設(shè)計(jì)問題。

GB 17626.3標(biāo)準(zhǔn)主載波（Key Carrier）射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試中，所采用的調(diào)制方式是（）

在電磁兼容領(lǐng)域，為什么總是用分貝（dB）的單位描述？