多項選擇題

由于側(cè)壁干涉的影響，探頭靠近側(cè)壁時會出現(xiàn)（）的現(xiàn)象。

A.探頭的指向性會改變
B.正對缺陷檢測缺陷回波高
C.缺陷最高回波在探頭軸線上
D.正對缺陷檢測缺陷回波低

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