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產(chǎn)生光纖接頭損耗的光纖本征因素有:兩端光纖軸向偏移,縱向間隙,端面分離,軸向傾斜,光纖端面不整齊和污染。
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用OTDR監(jiān)測光纖接頭衰耗。
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G.652型光纖可在1310nm波長區(qū)開通長距離155Mbit/s,622Mbit/s系統(tǒng)及在1550nm波長區(qū)開通長距離2.5Gbit/s。
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