A.與核外電子發(fā)生非彈性碰撞
B.與原子核發(fā)生非彈性碰撞
C.與核外電子發(fā)生彈性碰撞
D.與原子核發(fā)生彈性碰撞
E.與原子核發(fā)生核反應(yīng)
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A.其劑量響應(yīng)與受輻照有關(guān)
B.其劑量響應(yīng)與加熱歷史有關(guān)
C.其劑量響應(yīng)與受輻照和加熱歷史有關(guān)
D.保障測(cè)量的快捷性
E.溫度太高
A.X(γ)射線不直接引起電離和激發(fā)
B.帶電粒子在物質(zhì)中有一定的射程,X(γ)射線沒(méi)有
C.X(γ)射線的射線質(zhì)用射程表示,帶電粒子的射線質(zhì)用半價(jià)層表示
D.帶電粒子通過(guò)多次相互作用逐漸損失能量
E.X(γ)射線穿過(guò)物質(zhì)厚度是指數(shù)衰減
A.截面
B.線性衰減系數(shù)
C.半價(jià)層
D.平均自由程
E.實(shí)際射程(帶電粒子)
A.X(γ)射線與物質(zhì)相互作用中,單位長(zhǎng)度的能量損失份額
B.X(γ)射線與物質(zhì)相互作用中,單位厚度物質(zhì)發(fā)生相互作用概率
C.帶電粒子與物質(zhì)相互作用中,單位長(zhǎng)度發(fā)生相互作用幾率
D.帶電粒子與物質(zhì)相互作用中,單位質(zhì)量厚度的能量損失份額
E.X(γ)射線與物質(zhì)相互作用中,其強(qiáng)度衰減一半時(shí)的物質(zhì)厚度
A.帶電粒子與原子核發(fā)生核反應(yīng)
B.帶電粒子與原子核發(fā)生彈性碰撞
C.帶電粒子與原子核發(fā)生非彈性碰撞
D.帶電粒子與原子核外電子發(fā)生非彈性碰撞
E.帶電粒子與原子核外電子發(fā)生彈性碰撞
最新試題
影響靶點(diǎn)位置精確度的因素包括機(jī)械精度,定位精度和擺位精度。
光電效應(yīng)時(shí)入射X(γ)光子的能量一部分轉(zhuǎn)化為次級(jí)電子動(dòng)能,另一部分為特征X 射線能量。
關(guān)于組織補(bǔ)償?shù)拿枋?,錯(cuò)誤的是()。
巴黎系統(tǒng)規(guī)定臨床靶區(qū)的厚度T大于1.2cm 時(shí),應(yīng)采用雙平面插植。
電離室型劑量?jī)x在每次測(cè)量前必需對(duì)氣溫和氣壓進(jìn)行修正。
帶電粒子與物質(zhì)的一次相互作用可以損失其能量的全部或很大一部分。
檢查燈光野與射野的一致性通常用膠片法。
源皮距越小,百分深度劑量越大。
兩種不同深度處的百分深度劑量比值稱為射線質(zhì)指數(shù)或能量指數(shù)。
關(guān)于曼徹斯特系統(tǒng)的描述錯(cuò)誤的是()。