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凋亡細(xì)胞在形態(tài)學(xué)上表現(xiàn)為受累細(xì)胞多個(gè)聚集分布。
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基因芯片不能用于點(diǎn)突變的檢測(cè)。
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Western印跡技術(shù)能從多克隆抗體中檢測(cè)出單克隆抗體。
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