儀器時(shí)基線比例一般在試塊上調(diào)節(jié)，當(dāng)工件與試塊的聲速不同時(shí)，儀器的時(shí)基線比例發(fā)生變化，影響缺陷定位精度。

水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。

對(duì)于比正?？v波底面回波滯后的變形波稱(chēng)為遲到回波。

在檢測(cè)晶粒粗大和大型工件時(shí)，應(yīng)測(cè)定材料的衰減系數(shù)，計(jì)算時(shí)應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。

爬波在自由表面的位移有垂直分量，但不是純粹的表面波。