A.由于缺陷取向的影響;大尺寸缺陷的回波比小尺寸缺陷的回波高
B.由于缺陷形狀的影響;圓片形缺陷的回波比圓柱形缺陷的回波高
C.由于缺陷性質(zhì)的影響;氣孔缺陷的回波比夾雜缺陷的回波高
D.由于缺陷表面的影響;對于傾斜缺陷,粗糙面的回波比光滑面的回波高
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你可能感興趣的試題
A.有已知聲速的平面試樣
B.待測件厚度可以測量
C.時(shí)基線調(diào)整要準(zhǔn)確
D.以上都是
A.用已知厚度試塊,通過校準(zhǔn)進(jìn)行測量
B.為了準(zhǔn)確測量,需要使用不同厚度的兩塊試塊進(jìn)行校準(zhǔn)
C.測量時(shí),需要了解被測件的聲速
D.以上都是
A.5mm
B.10mm
C.20mm
D.40mm
A.5mm
B.10mm
C.20mm
D.40mm
A.會使聲束產(chǎn)生彎曲現(xiàn)象
B.會產(chǎn)生固定的遲到回波
C.聲束在側(cè)壁上會產(chǎn)生變型波
D.以上都有可能
最新試題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
儀器水平線性影響()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
超聲檢測對缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯誤的是()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。