A.由于缺陷取向的影響;大尺寸缺陷的回波比小尺寸缺陷的回波高 B.由于缺陷形狀的影響;圓片形缺陷的回波比圓柱形缺陷的回波高 C.由于缺陷性質(zhì)的影響;氣孔缺陷的回波比夾雜缺陷的回波高 D.由于缺陷表面的影響;對(duì)于傾斜缺陷,粗糙面的回波比光滑面的回波高
A.有已知聲速的平面試樣 B.待測(cè)件厚度可以測(cè)量 C.時(shí)基線(xiàn)調(diào)整要準(zhǔn)確 D.以上都是
A.用已知厚度試塊,通過(guò)校準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量 B.為了準(zhǔn)確測(cè)量,需要使用不同厚度的兩塊試塊進(jìn)行校準(zhǔn) C.測(cè)量時(shí),需要了解被測(cè)件的聲速 D.以上都是