判斷題

系統(tǒng)級(jí)別(system level)的靜電擾度(ESD immunity)測(cè)試與元器件級(jí)別(component level)的HBM模型下ESD敏感度(ESD sensitivity)測(cè)試是完全一樣的。

答案: 錯(cuò)誤
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離子風(fēng)機(jī)消除不了導(dǎo)電材料上的靜電。

答案: 錯(cuò)誤
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