A.氣孔
B.夾渣
C.裂紋
D.夾鎢
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A.檢測用儀器和設(shè)備的性能應(yīng)每年進(jìn)行一次檢定(校準(zhǔn)),并有記錄可查
B.黑度計至少每6個月校驗一次
C.射線設(shè)備更換重要部件應(yīng)及時對曝光曲線進(jìn)行校驗或重新制作
D.對使用中的曝光曲線,每年至少應(yīng)校驗一次
A.公稱厚度:受檢工件名義厚度,不考慮材料制造偏差和加工減薄
B.焦距:沿射線束中心測定的工件受檢部位表面與膠片之間的距離
C.圓形缺陷:長寬比小于或等于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷
D.小徑管:外直徑D0小于或等于100mm的管子
A.雙壁單影透照像質(zhì)計放置在膠片側(cè)
B.當(dāng)像質(zhì)計放置在膠片側(cè)時,應(yīng)在像質(zhì)計上適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記,“F”標(biāo)記影象應(yīng)與像質(zhì)計的標(biāo)記同時出現(xiàn)在底片上,且應(yīng)在檢測報告中注明
C.單壁透照時允許像質(zhì)計放置在膠片側(cè),但必須進(jìn)行對比試驗
D.當(dāng)一張膠片上同時透照多條焊接接頭時,至少在第一條、中間一條和最后一條焊接接頭處各放一個置像質(zhì)計
A.X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓
B.γ射線照相時,總的曝光時間應(yīng)不小于輸送源所需時間的10倍
C.X射線照相,當(dāng)焦距為700mm時,曝光量的推薦值為:AB級不小于15mA.min
D.X射線照相在采用較高管電壓時,應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬?/p>
A.電源電壓下降超過10%時,黑光燈輸出功率將大大降低
B.電源電壓波動超過10%時,對人眼損傷較大
C.電源電壓過低嚴(yán)重影響檢測靈敏度
D.電源電壓過高嚴(yán)重影響黑光燈壽命
最新試題
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識別性主要決定于()
最容易發(fā)生康普頓效應(yīng)的射線能量為()
當(dāng)射線穿透任何一物體時,部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。
以下試塊中,能用于測定縱波直探頭分辨力的是()
一個均勻的輻射光束強度為I0的射線,穿過一個厚度為X的物質(zhì),其強度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
康普頓效應(yīng)對射線檢測的影響包括()