A.按管子橫向缺陷的檢測方法進行檢測 B.利用大K值小晶片短前沿橫波斜探頭進行檢測 C.探頭K值根據(jù)需要確定,當一次波掃查不到焊接接頭根部時,可利用三次波檢測 D.試塊的耦合面曲率應(yīng)與被探管徑相同
A.應(yīng)對位于定量線及定量線以上缺陷作出缺陷類型和性質(zhì)的判斷 B.原則上采用直射波檢測缺陷各參數(shù),掃查靈敏度可根據(jù)需要確定,但不得使噪聲回波高度超過滿屏的20% C.只須對位于判廢線及以上的缺陷進行各項參數(shù)測得 D.只須對新產(chǎn)生的缺陷進行各項參數(shù)測定
A.掃查靈敏度不低于Φ2-12dB B.當板厚<40mm,采用單面雙側(cè),利用直射波和反射波檢測 C.斜探頭入射點可在CSK-ⅠA試塊上測試 D.掃描線比例可用CSK-ⅠA試塊測試