A.有棱鏡高懸高測(cè)量
B.無(wú)棱鏡商懸高測(cè)量
C.有儀器高懸高測(cè)量
D.無(wú)儀器高懸高測(cè)量
E.以上都是
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A.測(cè)站點(diǎn)三維坐標(biāo)
B.后視點(diǎn)平面坐標(biāo)
C.放樣點(diǎn)三維坐標(biāo)
D.儀器高和棱鏡高
E.以上只有A、B、D正確
A.后視點(diǎn)平面坐標(biāo)
B.測(cè)站點(diǎn)三維坐標(biāo)
C.儀器點(diǎn)和棱鏡高
D.待測(cè)點(diǎn)三維坐標(biāo)
E.以上都是
A.測(cè)站點(diǎn)坐標(biāo)
B.測(cè)站儀器高
C.棱鏡高
D.前視方位角
E.后視方位角
A.加.乘常數(shù)誤差
B.周期誤差
C.幅相誤差
D.相位不均勻性誤差
E.以上都是
A.全站儀的物鏡不能對(duì)著陽(yáng)光或強(qiáng)光源,以免損壞物鏡的光敏二極管.
B.在陽(yáng)光下使用全站儀時(shí),需撐傘
C.全站儀在使用時(shí)應(yīng)避免測(cè)線兩側(cè)及鏡站后方有反光物體
D.全站儀在一天當(dāng)中的最佳觀測(cè)時(shí)間為:上午日出后一個(gè)小時(shí)至兩個(gè)小時(shí),下午日落前三小時(shí)至半小時(shí)
E.陰天.有微風(fēng)時(shí),全天都可觀測(cè)
最新試題
()不需要考慮地面通視情況,且放樣點(diǎn)位之間獨(dú)立,但不能用于放樣精度為mm級(jí)的精密工程。
全站儀視準(zhǔn)軸應(yīng)平行于橫軸。
測(cè)量外業(yè)儀器一般1年須進(jìn)行防銹、防霉、防霧處理。
水準(zhǔn)儀只可以用來(lái)測(cè)量高差。
根據(jù)線路中平測(cè)量的成果可以繪制線路的橫斷面圖。
基坑開(kāi)挖需要進(jìn)行高程測(cè)設(shè)。
全站儀地形點(diǎn)坐標(biāo)采集時(shí)測(cè)站設(shè)置必須輸入儀器高和棱鏡高。
全站儀安置應(yīng)當(dāng)通過(guò)升降兩個(gè)固定的架腿完成粗平。
水準(zhǔn)測(cè)量是高程測(cè)設(shè)最快捷方便的方法。
手持式激光測(cè)距儀檢定各基準(zhǔn)面測(cè)量一致性時(shí),不同基準(zhǔn)面需要以單次測(cè)量模式測(cè)距()次,取平均值作為測(cè)量值。