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填空題
晶片與探測(cè)面平行,使超聲波垂直于探測(cè)面進(jìn)入被探材料的檢驗(yàn)方法叫做()。
答案:
垂直法
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填空題
當(dāng)頻率和材料一定時(shí),通常橫波對(duì)小缺陷的檢測(cè)靈敏度()縱波。
答案:
高于
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填空題
GTS-60實(shí)物對(duì)比試塊Φ4×20mm平底孔,鉆孔位置距軌端為32mm,主要目的是使孔波與端面波()。
答案:
易于分辨
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