鍵合工藝失效，焊盤產(chǎn)生彈坑的原因有（）。

下面選項(xiàng)中硅片減薄技術(shù)正確的是（）。

載帶自動(dòng)焊使用的凸點(diǎn)形狀一般有蘑菇凸點(diǎn)和柱凸點(diǎn)兩種。

因?yàn)镼FP封裝的可靠性高，且其封裝外形尺寸較小，寄生參數(shù)減小，故多用于高頻電路、音頻電路、微處理器、電源電路。

凸點(diǎn)的制作技術(shù)有（）。

塑封料的機(jī)械性能包括的模量有（）。

下列對(duì)焊接可靠性無(wú)影響的是（）。

倒裝芯片的連接方式有（）。

為了獲得好的性能，塑封料的電學(xué)性必須得到控制。

制造和封裝工藝過程中的材料性能是決定材料應(yīng)用的關(guān)鍵，制造性能主要包括（）。