最新試題
AUBM的形成可以采用()方法。
題型:多項選擇題
QFP的結(jié)構(gòu)形式因帶有引線框(L/F),對設定的電性能無法調(diào)整,而BGA可以通過芯片片基結(jié)構(gòu)的變更,得到所需的電性能。
題型:判斷題
為了獲得好的性能,塑封料的電學性必須得到控制。
題型:判斷題
下列屬于BGAA形式的是()。
題型:多項選擇題
以下不屬于打碼目的的是()。
題型:單項選擇題
鍵合工藝失效,,鍵合點尾絲不一致,可能產(chǎn)生的原因有()。
題型:多項選擇題
引線鍵合的常用技術有()。
題型:多項選擇題
鍵合點根部容易發(fā)生微裂紋,原因可能是鍵合操作中機械疲勞,也可能是溫度循環(huán)導致熱應力疲勞。
題型:判斷題
引線鍵合的目的是將金線鍵合在晶片、框架或基板上。
題型:判斷題
按照芯片組裝方式的不同,關于SiP的分類,說法錯誤的是()。
題型:單項選擇題