A.內(nèi)存檢測(cè)失敗 B.CMOS檢驗(yàn)錯(cuò)誤 C.CMOS電池失效 D.CMOS設(shè)置不當(dāng)
A.EPROM B.EEPROM C.PROM D.MROM
A.AGP B.PCI C.PCI-X D.PCI-E