A.RT B.UT C.MT D.PT
A.UT直探頭直接接觸法 B.UT斜直探頭直接接觸法 C.MT線圈磁化法 D.MT磁軛磁化法
A.大多數(shù)鍛件厚度較大,射線難以穿透 B.鍛件中大多數(shù)缺陷的方向不利于射線照相法檢出 C.大多數(shù)鍛件晶粒粗大影響射線照相靈敏度 D.以上A和B