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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】無(wú)損檢測(cè)發(fā)展分為幾個(gè)階段?其內(nèi)容是什么?
答案:
三個(gè)階段:第一個(gè)階段:NDI階段,無(wú)損探傷;第二個(gè)階段:NDT階段,無(wú)損檢測(cè);第三個(gè)階段:NDE階段,無(wú)損評(píng)價(jià)。
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填空題
用技術(shù)文件規(guī)定的探傷靈敏度為測(cè)長(zhǎng)基準(zhǔn)時(shí)稱(chēng)為()靈敏度法。
答案:
絕對(duì)
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填空題
用缺陷本身的最高波高為測(cè)長(zhǎng)基準(zhǔn)時(shí)成為()靈敏度法。
答案:
相對(duì)
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