A.不受工件底面狀況影響
B.不需要考慮傳輸修正
C.適用于厚度小于3N的工件
D.以上都是
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A.不受工件底面狀況影響
B.不需要考慮傳輸修正
C.適用于厚度大于3N的工件
D.以上都是
A.根據(jù)入射角度不同,試件中可同時(shí)產(chǎn)生縱波和橫波
B.根據(jù)入射角度不同,試件中可產(chǎn)生純橫波
C.根據(jù)入射角度不同,試件中可產(chǎn)生表面波
D.以上都正確
A.掃查方式
B.掃查速度
C.掃查間距
D.以上都是
A.缺陷反射波高度
B.背反射損失
C.沿試件表面測量出的缺陷延伸范圍
D.以上都是
A.在確定的檢測條件下,缺陷的大小可用波高值來表示
B.缺陷反射面小于入射聲束截面時(shí),可用底面回波高度法進(jìn)行評定
C.缺陷回波幅度與人工反射體回波幅度進(jìn)行比較,稱為當(dāng)量評定法
D.以上都是
最新試題
()是影響缺陷定量的因素。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。