A、內(nèi)置電磁損壞 B、有感應(yīng)線圈損壞 C、讀卡器讀卡距離太短 D、提供信息系統(tǒng)有誤
A、內(nèi)置電磁損壞 B、有感應(yīng)線圈損壞 C、驅(qū)動(dòng)損壞 D、芯片損壞
A、系統(tǒng)初始化不一致 B、射頻讀卡器不能兼容ID卡 C、射頻讀卡器頻段與ID卡頻段不同 D、供給的芯片燒壞