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【 】事件相關(guān)電位異常的主要指標(biāo)是潛伏期縮短或波形缺失
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【 】P潛伏期反映個體智力損害的程度,作為智力康復(fù)過程的指標(biāo),其最大優(yōu)點(diǎn)是不必受試者主觀配合,客觀性能較好。
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【 】運(yùn)動誘發(fā)電位的恢復(fù)先于運(yùn)動功能的恢復(fù)
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