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單項(xiàng)選擇題

CSK-IB試塊將IIW試塊的φ50孔改為φ40、φ44、φ50臺(tái)階孔，其目的是方便用于（）

A.測(cè)定斜探頭折射角的正切（K值）
B.測(cè)定直探頭盲區(qū)范圍
C.測(cè)定橫波斜探頭的分辨力
D.以上全是

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單項(xiàng)選擇題

用一臺(tái)時(shí)基線已準(zhǔn)確校正的超聲波儀器和斜探頭探測(cè)無切槽的IIW2試塊，斜探頭聲束朝向R25方向，若令第一次回波位于滿刻度為100的水平刻度25處，則圓弧面的第二次回波應(yīng)出現(xiàn)在水平刻度的（）

A.50
B.75
C.100
D.以上都不對(duì)

單項(xiàng)選擇題

平底孔最常用作探測(cè)（）的參考反射體。

A.焊縫
B.薄板
C.管材
D.鍛鑄件