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電阻率剖面法中測(cè)量電極沿測(cè)線逐點(diǎn)移動(dòng),以探測(cè)地下一定深度內(nèi)地電斷面沿垂直方向的變化。
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頻率測(cè)深的原理是利用人工源(不同頻率)交變電磁場(chǎng)探測(cè)電性沿鉛直方向變化的電磁測(cè)深法的一個(gè)種。
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電阻率剖面法中,中間梯度裝置的裝置系數(shù)隨著測(cè)點(diǎn)的改變而改變。
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