最新試題
TMA測試材料的尺寸變化，因此只能利用它表征材料尺寸。
與電子探針相比，離子探針的分析深度更深。
質厚襯度與散射物體不同部位的密度和厚度的差異無關。
盛放被測試樣品的坩堝應保證可以與樣品進行反應。
不存在位錯、第二相粒子等缺陷的晶體，稱為理想晶體或者是完整晶體。
