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單項(xiàng)選擇題
用投影儀法測量更比沖擊斷口側(cè)膨脹值時(shí),取一截試樣,使其缺口(),放在光學(xué)投影儀的移動(dòng)平臺上。
A.朝下
B.朝上
C.朝側(cè)面
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單項(xiàng)選擇題
用游標(biāo)狀尺測量銹,測量更比沖擊斷口晶狀面積時(shí),要求斷口晶狀區(qū)的形狀可歸類成()形。
A.矩形,梯形
B.平等四邊形
C.三角形
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單項(xiàng)選擇題
進(jìn)行攤牌彎曲試驗(yàn)時(shí),試驗(yàn)設(shè)備彎曲圓柱和夾持面的粗糙度Ra應(yīng)不大于()M時(shí)。
A.0.6
B.0.4
C.0.2
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