晶粒度比較法是在100倍的顯微鏡下觀察并和標(biāo)準(zhǔn)圖片比較,1-4級為粗晶粒,5-8級為細(xì)晶粒。
拉伸試驗(yàn)中用以測量試樣伸長的兩標(biāo)記間的長度,稱為試樣標(biāo)距。
試樣拉斷后縮頸處橫截面積的最大縮減量與原始橫截面積的百分比。