A.應(yīng)在試驗(yàn)記錄和報(bào)告中注明
B.應(yīng)判為不合格
C.應(yīng)為無效
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A.測(cè)縮頸處的最小寬度和最小厚度
B.測(cè)縮頸處的最大寬度和最小厚度
C.測(cè)縮頸處的平均寬度和平均厚度
A.寬度和厚度的最小值
B.橫截面積的最小值
C.橫距面積的平均值
A.標(biāo)距的中間處
B.標(biāo)距部分任意三點(diǎn)
C.標(biāo)距兩端及中間處
A.電阻絲
B.碳硅棒
C.鹽浴
D.以上均不是
A.料坯
B.樣坯
C.試樣
D.原料
最新試題
對(duì)溫度有較高要求的冷彎試驗(yàn)，應(yīng)控制在（）℃之內(nèi)。
游離滲碳體評(píng)級(jí)圖分為A、B、C三個(gè)系列，每個(gè)系列（）級(jí)別。
試樣截取的部位、數(shù)量和試驗(yàn)狀態(tài)，按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或雙方協(xié)議的規(guī)定進(jìn)行。生產(chǎn)廠應(yīng)自（）取樣。
單片法測(cè)量無取向電工鋼，試樣基準(zhǔn)方向與軋制方向的夾角允許有下述公差：取向硅鋼片為（）。
鍍錫板檢驗(yàn)最重要的質(zhì)量指標(biāo)是（）。
硫印檢驗(yàn)是用硫酸溶液浸泡過的相紙緊密接觸鋼的檢驗(yàn)面，檢驗(yàn)面析出的硫化氫使感光乳劑的鹵化銀轉(zhuǎn)變?yōu)榱蚧y而（），顯示出硫的富集區(qū)域。
25cm愛潑斯坦方圈初級(jí)繞組的總匝數(shù)N1和次級(jí)繞組的總匝數(shù)N2各為（）。
先用一種大于彎心直徑的壓頭直接進(jìn)行壓彎，然后再墊上與彎心直徑大小相同的墊板壓至試樣兩面平行的方法稱（）。
鍍層質(zhì)量檢驗(yàn)中，鋼板或鋼帶試樣直徑或邊長的測(cè)定至少準(zhǔn)確到（）mm。
試驗(yàn)采用硬質(zhì)合金球，測(cè)量范圍的上限仍是（）。