A、晶片上有塵埃 B、檢測器漏氣 C、切光片松動(dòng) D、元件老化
A、樣品流量大 B、檢測器漏氣 C、光路透鏡污染 D、元件老化
A、儀表指示回零 B、儀表指示滿度 C、儀表靈敏度下降 D、儀表指示出現(xiàn)擺動(dòng)