A.地表
B.地物
C.地貌
D.地理
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A.地表
B.地物
C.地理
D.地標(biāo)
A.地表
B.地物
C.地理
D.地信
A.平面控制測(cè)量可有效控制測(cè)量誤差的積累
B.導(dǎo)線測(cè)量可用于一二等平面控制測(cè)量
C.GPS控制測(cè)量受地形條件限制較小
D.三角形網(wǎng)測(cè)量，檢核條件較多，可用于較高等級(jí)控制測(cè)量
E.導(dǎo)線測(cè)量，受地形條件影響小，是城鎮(zhèn)平面控制測(cè)量的首選
A.從起點(diǎn)向終點(diǎn)繪制草圖，再?gòu)慕K點(diǎn)反向繪制草圖，若其中一導(dǎo)線點(diǎn)接近，其余的錯(cuò)開(kāi)，則此點(diǎn)測(cè)角錯(cuò)誤B.正反向推算方位角比對(duì)，方位角相近的邊，則此角有誤
C.從起點(diǎn)向終點(diǎn)根據(jù)角度和邊長(zhǎng)直接計(jì)算坐標(biāo)增量，推算各點(diǎn)坐標(biāo)，再?gòu)慕K點(diǎn)向起點(diǎn)同法推算各點(diǎn)坐標(biāo)，同點(diǎn)坐標(biāo)接近者，此點(diǎn)測(cè)角有誤
D.長(zhǎng)短邊夾角測(cè)角有誤
E.導(dǎo)線中間點(diǎn)測(cè)角有誤
A.增加測(cè)角測(cè)回?cái)?shù)
B.往返量距
C.改變導(dǎo)線布設(shè)形式
D.控制長(zhǎng)短邊，減小測(cè)角誤差
E.增加多余觀測(cè)
最新試題
DJ2光學(xué)經(jīng)緯儀的水平度盤讀數(shù)設(shè)定方法是，應(yīng)（），使水平度盤讀數(shù)對(duì)到需要設(shè)定的度數(shù)及的整數(shù)倍，同時(shí)使符合對(duì)徑分劃線上下精確對(duì)齊。
度盤刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤位置削弱該誤差影響。
RTK測(cè)量的基本工作流程中，在至少（）個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)（即點(diǎn)校正）。
精密經(jīng)緯儀的主軸線有視準(zhǔn)軸、（）、數(shù)軸和光學(xué)（激光）對(duì)中器視軸等。
繪制坐標(biāo)方格網(wǎng)，方格的邊長(zhǎng)應(yīng)準(zhǔn)確，誤差不超過(guò)（）。
設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m，B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀，儀器高為1.43m，平距DAB=341.23m，觀測(cè)A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″，則由此算得B點(diǎn)的高程為（）
雙面水準(zhǔn)尺中，以下說(shuō)法正確的是（）。
衡量地形圖測(cè)量的技術(shù)指標(biāo)主要有地物點(diǎn)的（）、等高線插求點(diǎn)的高程中誤差、細(xì)部點(diǎn)的平面和高程中誤差以及地形點(diǎn)的最大點(diǎn)位間距。
精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測(cè)量高程時(shí)應(yīng)使用（）
光電測(cè)距中對(duì)向觀測(cè)的作用是減弱大氣折光、（）等對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。