設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m，B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀，儀器高為1.43m，平距DAB=341.23m，觀測(cè)A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″，則由此算得B點(diǎn)的高程為（）

精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測(cè)量高程時(shí)應(yīng)使用（）

光電測(cè)距中對(duì)向觀測(cè)的作用是減弱大氣折光、（）等對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。

利用偽距作空間交會(huì)來定位點(diǎn)位的方法稱為（）

下列誤差中，（）是水準(zhǔn)測(cè)量的主要儀器誤差。

RTK測(cè)量的基本工作流程中，在至少（）個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)（即點(diǎn)校正）。

全站儀觀測(cè)水平角，下列不符合全站儀主要技術(shù)指標(biāo)規(guī)定的是（）。

路線定義（主點(diǎn)法）曲線左偏時(shí)，半徑輸入為（）值。

絕對(duì)定位定位精度為（）。

繪制坐標(biāo)方格網(wǎng)，方格的邊長(zhǎng)應(yīng)準(zhǔn)確，誤差不超過（）。