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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】TEM圖像的質(zhì)厚襯度和衍射襯度是如何形成的，分別適合分析哪類(lèi)材料？
答案：
質(zhì)厚襯度是由于樣品不同區(qū)域的厚度或/和原子序數(shù)差異產(chǎn)生的襯度，適用于對(duì)非晶材料的分析。衍射襯度是當(dāng)電子束入射到樣品中結(jié)晶...
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】為何用SEM分析非導(dǎo)電樣品前要對(duì)它進(jìn)行噴金或噴碳處理？如何利用SEM分析材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)？
答案：
由于進(jìn)入和離開(kāi)樣品的電子數(shù)量不平衡，電子在樣品表面積聚產(chǎn)生放電現(xiàn)象，影響二次電子成像和背散射電子成像的效果，因此在SEM...
問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】特征X射線是如何產(chǎn)生的？利用特征X射線能得到樣品哪些信息？
答案：
樣品中原子的內(nèi)層電子被入射電子轟擊出來(lái)后，相鄰?fù)鈱幽芰枯^高的電子會(huì)迅速發(fā)生躍遷，填補(bǔ)內(nèi)層電子空位。由于原子內(nèi)外層電子存在...
