A.波幅和回彈值
B.波形和回彈值
C.聲時(shí)值和碳化深度
D.聲時(shí)值和回彈值
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A.偏大
B.偏小
C.不變
D.偏大偏小無(wú)規(guī)律
A.統(tǒng)一
B.地區(qū)
C.橋梁
D.專用
A.0.5
B.1
C.1.5
D.2
A.3個(gè)最大值與3個(gè)最小值的平均值
B.該測(cè)區(qū)全部回彈值平均
C.剔除3個(gè)最大值與3個(gè)最小值后的平均值
D.剔除3個(gè)最大值后的平均值
A.應(yīng)使彈擊桿伸出機(jī)殼
B.清除彈擊桿、桿前端球面以及刻度尺表面和外殼上的污垢、塵土
C.回彈儀不用時(shí)應(yīng)將彈擊桿壓入儀器內(nèi),經(jīng)彈擊后方可按下按鈕鎖住機(jī)芯,將回彈儀裝入儀器箱
D.如長(zhǎng)期不用,應(yīng)將使用后的數(shù)字式回彈儀帶電池直接收好平放在干燥陰涼處
最新試題
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測(cè)。
對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
一次完整的補(bǔ)焊過(guò)程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。
對(duì)含有內(nèi)穿過(guò)式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()
對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。
二次打底焊接或重熔排除,無(wú)需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請(qǐng)手續(xù)。
缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
檢測(cè)申請(qǐng)時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測(cè)等全過(guò)程具有可追溯性。