A.點(diǎn)缺陷 B.線缺陷 C.面缺陷
A.奧氏體晶核的形成 B.奧氏體晶核的長(zhǎng)大 C.殘余滲碳體的溶解 D.奧氏體的均勻化
A.放大2倍 B.縮小2倍 C.放大0.5倍 D.不改變