A.對(duì)晶片振動(dòng)起阻尼作用 B.吸收晶片背面發(fā)出的雜波 C.對(duì)晶片起支撐作用 D.以上都是
A.縱波直探頭用于檢測(cè)與檢測(cè)面垂直的缺陷 B.橫波斜探頭用于檢測(cè)與檢測(cè)面傾斜的缺陷 C.表面波探頭用于檢測(cè)表面和近表面缺陷 D.蘭姆波探頭用于檢測(cè)薄板中的缺陷
A.導(dǎo)電材料 B.磁致伸縮材料 C.壓電材料 D.磁性材料