A.0.2~8MHz
B.0.4~6MHz
C.0.5~10MHz
D.1~10MHz
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A.-6dB法
B.絕對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)法
C.端點(diǎn)-6dB法
D.相對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)法
A.Φ2-18dB
B.Φ2-16dB
C.Φ2-12dB
D.Φ2-4dB
A.A級(jí)
B.B級(jí)
C.AB級(jí)
D.以上都不是
A.被檢工件厚度太大
B.工件底面與探測(cè)面不平行
C.耦合劑有較大聲能損耗
D.工件與試塊材質(zhì),表面光潔度有差異
A.每星期一次
B.每月一次
C.每年一次
D.每次使用前均要校準(zhǔn)
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最新試題
X熒光測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)有()
技術(shù)監(jiān)督工作必須落實(shí)完善的()機(jī)制。
以下屬于連接金具型式試驗(yàn)的試驗(yàn)項(xiàng)目有()
基建部門(mén)負(fù)責(zé)()專(zhuān)業(yè)的全過(guò)程技術(shù)監(jiān)督歸口管理工作。
隔離開(kāi)關(guān)觸頭、觸指鍍銀層可以采用()檢測(cè)。
光譜分析()材料時(shí),分析面不宜用砂輪機(jī)或砂紙打磨處理。
利用手持式X射線熒光光譜分析儀檢測(cè)時(shí),到達(dá)作業(yè)現(xiàn)場(chǎng)后,應(yīng)檢查被檢材料和環(huán)境是否存在影響分析結(jié)果的因素,如果有,必須清理干凈。以下屬于這些因素的有()
科技部門(mén)不負(fù)責(zé)()專(zhuān)業(yè)的全過(guò)程技術(shù)監(jiān)督歸口管理工作。
高能X射線照射到物質(zhì)上以后,一般會(huì)出現(xiàn)以下哪幾種X射線()
耐張線夾與接續(xù)金具進(jìn)行握力試驗(yàn)時(shí),試件中金具與金具之間或金具與夾具之間的導(dǎo)線長(zhǎng)度應(yīng)不小于導(dǎo)線外徑的(),且不小于()。