A.邊界掃描技術(shù)是調(diào)試硬件芯片及目標(biāo)機(jī)電路板的一種常用調(diào)試技術(shù)。
B.JTAG組織所研究的測試訪問端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)，成為了片上測試技術(shù)的一種國際標(biāo)準(zhǔn)，即俗稱的JTAG標(biāo)準(zhǔn)。
C.使用片上調(diào)試技術(shù)進(jìn)行嵌入式系統(tǒng)目標(biāo)機(jī)調(diào)試時，無需目標(biāo)存儲器，也不占用目標(biāo)機(jī)任何I/O端口。
D.經(jīng)常用于嵌入式系統(tǒng)設(shè)計中的微處理器（如：MCS-51、DSP、ARM）都支持JTAG標(biāo)準(zhǔn)的片上調(diào)試技術(shù)