軟件生存周期包含哪些內(nèi)容？

軟件設(shè)計(jì)中劃分模塊的一個(gè)準(zhǔn)則是（）。兩個(gè)模塊之間的耦合方式中，（）耦合的耦合度最高，（）耦合的耦合度最低。一個(gè)模塊內(nèi)部的內(nèi)聚種類(lèi)中（）內(nèi)聚的內(nèi)聚度最高，（）內(nèi)聚的內(nèi)聚度是最低的。

空白（2）處應(yīng)選擇（）

空白（2）處應(yīng)選擇（）

測(cè)試的目的在于（），因?yàn)闇y(cè)試發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤和更正錯(cuò)誤的過(guò)程，而不能表明軟件程序的（）。而且在軟件開(kāi)發(fā)的過(guò)程中，每個(gè)不同的階段對(duì)于錯(cuò)誤的解決代價(jià)是不同的，在（）發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤更正代價(jià)是相對(duì)較小的，等整個(gè)系統(tǒng)都完成了，再發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤其代價(jià)相對(duì)就比較大了。

數(shù)據(jù)流圖有幾種基本符號(hào)？

耦合度可以分成7個(gè)級(jí)別，從高到低依次為：內(nèi)容耦合、（）、外部耦合、控制耦合、（）、（）、非直接耦合

空白（1）處應(yīng)選擇（）

近30年來(lái)形成了軟件開(kāi)發(fā)的多種模式，大致可歸納為3種方法：結(jié)構(gòu)化聲明周期法、原型化方法和（）。

軟件測(cè)試的目的是（），通常可分為白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試。白盒測(cè)試是根據(jù)程序的（）來(lái)設(shè)計(jì)測(cè)試用例，黑盒測(cè)試是根據(jù)軟件的規(guī)格說(shuō)明來(lái)設(shè)計(jì)測(cè)試用例。常用的黑盒測(cè)試方法邊值分析、等價(jià)類(lèi)劃分、錯(cuò)誤猜測(cè)、因果圖等。軟件測(cè)試的步驟主要有單元測(cè)試、集成測(cè)試和確認(rèn)測(cè)試。如果一個(gè)軟件作為產(chǎn)品被許多客戶使用的話，在確認(rèn)測(cè)試的時(shí)候通常要通過(guò)α測(cè)試和β測(cè)試的過(guò)程。其中α測(cè)試是（）進(jìn)行的一種測(cè)試。