單項選擇題以下設(shè)備中通信沖突最嚴(yán)重的是（）。

A、HUB
B、路由器
C、交換機(jī)
D、中繼器


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1.單項選擇題對于交換機(jī)的描述錯誤的是（）。

A、交換機(jī)對應(yīng)于OSI模型的數(shù)據(jù)鏈路層
B、交換機(jī)不可以對MAC地址進(jìn)行綁定
C、交換機(jī)可以對MAC地址進(jìn)行綁定
D、交換機(jī)對應(yīng)于OSI模型的第二層

2.單項選擇題網(wǎng)絡(luò)設(shè)備間的空調(diào)設(shè)備的負(fù)荷應(yīng)如何計算。（）

A、設(shè)備間各個方面的總熱量和乘以系數(shù)1.3
B、設(shè)備間各個方面的總熱量和乘以系數(shù)1.2
C、設(shè)備間各個方面的總熱量和乘以系數(shù)1.1
D、設(shè)備間各個方面的總熱量和乘以系數(shù)1.5

3.單項選擇題設(shè)備間根據(jù)空調(diào)負(fù)荷值來選擇安裝空調(diào)設(shè)備，對于空調(diào)負(fù)荷值中的總發(fā)熱量包括的范圍描述正確的是（）。

A、總發(fā)熱量包括其他三項
B、設(shè)備發(fā)熱量與設(shè)備間外圍結(jié)構(gòu)傳熱量
C、室外補(bǔ)充新風(fēng)帶入的熱量
D、室內(nèi)工作人員發(fā)熱量與照明燈具發(fā)熱量

4.單項選擇題下列哪一項是室溫過高對微電子設(shè)備的正常運(yùn)行及其使用壽命所產(chǎn)生的影響？（）

A、使磁介質(zhì)等發(fā)脆，容易斷裂
B、使元件失效率急劇增加，使用壽命下降
C、產(chǎn)生“電噪聲”，使微電子設(shè)備不能正常運(yùn)行
D、其他三項都不對

5.單項選擇題常用的微電子設(shè)備能連續(xù)進(jìn)行工作時，對溫度和濕度的要求為（）。

A、溫度30℃－40℃，濕度20％－80％
B、溫度10℃－30℃，濕度30％－80％
C、溫度10℃－30℃，濕度20％－80％
D、溫度20℃－40℃，濕度20％－80％