A.計(jì)算機(jī)控制掃描、數(shù)據(jù)采集、圖像重建、顯示和存儲各個環(huán)節(jié)
B.探測器接收的信號需放大并經(jīng)過模/數(shù)轉(zhuǎn)換
C.模/數(shù)轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)為顯示數(shù)據(jù)
D.AP(陣列處理器)處理后的數(shù)據(jù)為顯示數(shù)據(jù)
E.圖像存儲包括拍片、磁盤及光盤存儲
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.計(jì)算機(jī)
B.陳列處理機(jī)
C.探測器
D.磁盤
E.照相機(jī)
A.準(zhǔn)直器決定X線束的寬度
B.準(zhǔn)直器決定掃描層面的厚度
C.準(zhǔn)直器可調(diào)為不同寬度
D.準(zhǔn)直器寬度的調(diào)整范圍根據(jù)不同CT性能而定
E.準(zhǔn)直器位于探測器的前端
A.掃描架、檢查床和X線發(fā)生系統(tǒng)
B.計(jì)算機(jī)和數(shù)據(jù)收集、陣列處理系統(tǒng)
C.操作臺和圖像顯示系統(tǒng)
D.獨(dú)立診斷臺和獨(dú)立計(jì)算機(jī)設(shè)備系統(tǒng)
E.照相機(jī)和其他用于資料的存儲設(shè)備
A.X線衰減后的強(qiáng)度與入射X線強(qiáng)度成正比,與所穿過物質(zhì)的密度及厚度成反比
B.X線衰減后的強(qiáng)度與入射X線強(qiáng)度成反比,與所穿過物質(zhì)的密度及厚度成正比
C.X線衰減后的強(qiáng)度與入射X線強(qiáng)度成正比,與所穿過物質(zhì)的密度及厚度成正比
D.X線衰減后的強(qiáng)度與入射X線強(qiáng)度成反比,與所穿過物質(zhì)的密度及厚度成反比
E.X線衰減后的強(qiáng)度與入射X線強(qiáng)度成反比,與所穿過物質(zhì)的密度成正比,與物質(zhì)的厚度成反比
A.穿透的物質(zhì)的厚度越厚,X線強(qiáng)度越低
B.穿過的物質(zhì)的厚度越厚,X線強(qiáng)度越高
C.穿過的物質(zhì)的密度越大,X線強(qiáng)度越高
D.穿過的物質(zhì)的密度越小,X線強(qiáng)度越低
E.初始X線強(qiáng)度越高,X線強(qiáng)度越低
最新試題
CT的像素大小范圍為:()
人眼能區(qū)別的灰階數(shù)目為:()
不屬于CT仿真內(nèi)窺鏡優(yōu)點(diǎn)的是:()
對于缺少脂肪襯托的受檢者,為改善顯示效果可采取:()
氣體探測器主要采用:()
層厚螺距的特點(diǎn),著重體現(xiàn)在:()
眾多圖像處理方法中,CT常用于圖像放大和旋轉(zhuǎn)的是:()
人眼灰階的能力大約在:()
與圖像質(zhì)量無關(guān)的技術(shù)性能指標(biāo)是:()
假如某物質(zhì)的X線衰減系數(shù)為30,水的X線衰減系數(shù)為20,則該物質(zhì)的CT值為:()